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几种缺陷分析方法  

2013-08-15 15:42:07|  分类: 默认分类 |  标签: |举报 |字号 订阅

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1、ODC缺陷分析:由IBM 的waston中心推出。Phontol.com将一个缺陷在生命周期的各环节的属性组织起来,从单维度、多维度来对缺陷进行分析,从不同角度得到各类缺陷的缺陷密度和缺陷比率,从而积累得到各类缺陷的基线值,用于评估测试活动、指导测试改进和整个研发流程的改进;同时根据各阶段缺陷分布得到缺陷去除过程特征模型,用于对测试活动进行评估和预测。Phontol.com上面回答中涉及到的缺陷分布、缺陷趋势等都属于这个方法中的一个角度而已。

  2、Gompertz分析:根据测试的累积投入时间和累积缺陷增长情况,拟合得到符合自己过程能力的缺陷增长Gompertz曲线,用来评估软件测试的充分性、预测软件极限缺陷数和退出测试所需时间、作为测试退出的判断依据、指导测试计划和策略的调整;

  3、Rayleigh分析:通过生命周期各阶段缺陷发现情况得到缺陷Rayleigh曲线,用于评估软件质量、预测软件现场质量;

  4、四象限分析:根据软件内部各模块、子系统、特性测试所累积时间和缺陷去除情况,和累积时间和缺陷去除情况的基线进行比较,得到各个模块、子系统、特性测试分别所位于的区间,从而判断哪些部分测试可以退出、哪些测试还需加强,用于指导测试计划和策略的调整;

  5、根本原因分析:利用鱼骨图、柏拉图等分析缺陷产生的根本原因,根据这些根本原因采取措施,改进开发和测试过程;

   6、缺陷注入分析:对被测软件注入一些缺陷,通过已有用例进行测试,根据这些刻意注入缺陷的发现情况,判断测试的有效性、充分性,预测软件残留缺陷数。06年软件评测师考试中有一题就是考这个思路:

       两个小组独立测试同一个程序,第一组发现25个错误,第二组发现30个错误,在两个小组发现的错误有15个是共同的,那么可以估计程序中错误的个数为:
 A.25   B   30     C50      D 60 


  7、DRE/DRM分析:通过已有项目历史数据,得到软件生命周期各阶段缺陷注入和排除的模型,用于设定各阶段质量目标,评估测试活动。
  至于缺陷预防,基本上是两个方面:
  1、测试活动尽量提前,通过及时消除开发前期阶段引入的缺陷,防止这些缺陷遗留并放大到后续环节;
  2、通过对已有缺陷进行分析(例如上面的ODC分析等),找出产生这些缺陷的技术上不足和流程上不足,通过对这些不足进行改进,防止类似缺陷再次发生。

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